奧林巴斯金相顯微鏡是用可見光作為照明源的一種顯微鏡可分為正立式和倒置式兩種。兩者的區(qū)別為：正立式顯微鏡：光路短，光路設(shè)計簡單，光損少，制樣要求高，樣品高度有要求，方便多視場連續(xù)觀察，鏡頭不易落灰易維護。倒置式顯微鏡：光路長，光損較大，光路設(shè)計較復(fù)雜，制樣要求較低，對樣品高低無要求，檢測方便快速，不適合多視場分析，同等配置下倒置顯微鏡的價格要高于正立式顯微鏡。

    金相檢驗是研究金屬及合金內(nèi)部組織的重要方法之一，為了在奧林巴斯金相顯微鏡下正確有效地觀察到內(nèi)部顯微組織，就需制備能用于微觀檢驗的樣品――金相試樣，也可稱之為磨片。金相試樣制備的主要程序為：取樣—嵌樣（對于小樣品）—磨光—拋光一浸蝕等。

    一、取樣原則

    用奧林巴斯金相顯微鏡對金屬的一小部分進行金相研究，其成功與否，可以說首先取決所取試樣有無代表性。在一般情況下，研究金屬及合金顯微組織的金相試樣應(yīng)從材料或零件在使用中最重要的部位截?。换蚴瞧?、夾雜等缺陷最嚴重的部位截取。在分析失效原因時，則應(yīng)在失效的地方與完整的部位分別截取試樣，以探究其失效的原因。對于生長較長裂紋的部件，則應(yīng)在裂紋發(fā)源處、擴展處、裂紋尾部分別取樣，以分析裂紋產(chǎn)生的原因。研究熱處理后的零件時，因組織較均勻，可任選一斷面試樣。若研究氧化、脫碳、表面處理（如滲碳）的情況，則應(yīng)在橫斷面上觀察。有些零部件的“重要部位”的選擇要通過對具體服役條件的分析才能確定。

    二、試樣截取

    無論采取何種截取方法截取試樣，都必須保證不使試樣觀察面的金相組織發(fā)生變化。軟材料可用鋸、車、刨等方法切取；硬材料可用水冷砂輪切片機、電火花切割等方法切??；硬而脆的材料（如白口鑄鐵），也可用錘擊法獲取。

    三、試樣鑲嵌

    當試樣尺寸過小、形狀特殊（如金屬碎片、絲材、薄片、細管、鋼皮等）不易握持，或要保護試樣邊緣（如表面處理的檢驗、表面缺陷的檢驗等）則要對試樣進行夾持或鑲嵌。鑲嵌可分為冷鑲嵌和熱鑲嵌。

    四、試樣磨光

    磨光的目的是要能得到一個平整的磨面，這種磨面上還留有極細的磨痕，這將在以后的拋光過程中消除。磨光工序又可分為粗磨和細磨兩步。

    五、試樣拋光

    拋光的目的是除去金相試樣磨面上由細磨留下的磨痕，成為平整無疵的鏡面。盡管拋光是金相試樣制備中的最后一道工序并由此而得光滑的鏡面，但金相工作者的經(jīng)驗是：在金相試樣磨光過程中要多下功夫，因為拋光的作用僅能去除表層很薄一層金屬，所以拋光結(jié)果在很大程度上取決于前幾道工序的質(zhì)量。

    六、試樣顯示

    拋好光后的試樣，若直接放在顯微鏡下觀察，只能看到一片亮光，僅能觀察某些非金屬夾雜物、灰口鑄鐵中的石墨、粉末冶金制品中的孔隙等，無法辨別出各種組成物及其形態(tài)特征。為了把磨面的變形層除去，同時還要把各個不同的組成相顯著地區(qū)分開來，得到有關(guān)顯微組織的信息，就要進行顯微組織的顯示工作。按金相組織顯示方法的本質(zhì)可以分為化學(xué)、物理二類。

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